PID測(cè)試潛在電勢(shì)誘導(dǎo)衰減，組件長(zhǎng)期在高電壓工作，在蓋板玻璃、封裝材料、邊框之間存在漏電流，大量電荷聚集在電池片表面，使得電池片表面的鈍化效果惡化，導(dǎo)致填充因子、短路電流、開(kāi)路電壓降低，使組件性能低于設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)；PID測(cè)試目的是為驗(yàn)證組件經(jīng)受高強(qiáng)度電壓性能變化的能力。銘電推出的PID測(cè)試系統(tǒng)滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC61215-2 MQT21，簡(jiǎn)潔、高效、使用便捷靈活，極大地方便用戶進(jìn)行PID的測(cè)試實(shí)驗(yàn)。