型號概述

產品概述

2470高壓SourceMeter®源測量單元（SMU）儀器將先進的Touch、Test、Invent®技術帶到您的指尖。它將創新的圖形用戶界面（GUI）與電容觸摸屏技術相結合，使測試變得直觀，并最大限度地減少學習曲線，幫助工程師和科學家更快地學習，更智能地工作，更容易發明。憑借其1100 V和10 fA的性能，2470被優化用于表征和測試高電壓、低泄漏器件、材料和模塊，如碳化硅（SiC）、氮化鎵（GaN）、功率MOSFET、瞬態抑制器件、電路保護器件、功率模塊、電池等。

主要性能特點

●  ?覆蓋范圍廣，最大可達1100 V/1 A DC 20 W

●  10 fA測量分辨率

●  0.012%的基本測量精度，分辨率為6?位

●  五英寸高分辨率電容式觸摸屏GUI

●  源和阱（4象限）操作

●  SCPI和TSP®腳本編程模式

●  用于多通道I-V測試的TSP鏈路

●  前面板輸入香蕉插孔；后面板高壓輸入三軸連接

●  內置上下文相關幫助

●  前面板USB 2.0內存I/O端口，用于傳輸數據、測試腳本和測試配置

產品應用

●  相對低頻測量

●  低頻計算機和電信測量

●  電源

●  低頻放大器